物質(zhì)結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是
XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)zui有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結構的*種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點。
X射線衍射儀的基本構造：
X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似, X射線衍射儀主要部件包括4部分。
（1）高穩(wěn)定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。
（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構系統(tǒng) 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
（3）射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng) 現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng), 它們的特點是自動化和智能化。
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