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X射線衍射儀是采用衍射光子探測器和測角儀來記錄衍射線位置及強(qiáng)度的分析儀器，并通過系列技術(shù)的處理能準(zhǔn)確地測量衍射強(qiáng)度和線性。X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)**應(yīng)力的測定、晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等。物相分析是X射線衍射在金屬中用得多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點(diǎn)陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)相比較,確定材料中存在的物相;后者則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度,確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關(guān)系和檢查材料的成...

工業(yè)衍射儀是一種用于分析材料結(jié)構(gòu)的儀器，通過衍射現(xiàn)象來獲取材料的晶體結(jié)構(gòu)信息。它在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。原理基于光的衍射現(xiàn)象。當(dāng)光通過物體表面或穿過物體時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，即光波的傳播方向發(fā)生偏轉(zhuǎn)。工業(yè)衍射儀利用這種現(xiàn)象來研究材料的晶體結(jié)構(gòu)。它通常使用單色光源照射樣品，并通過衍射圖樣來分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)。衍射圖樣是由光波在樣品中的衍射產(chǎn)生的干涉圖案，通過解析這些圖案可以獲得材料的晶格參數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)等信息。下面介紹一些常用的工業(yè)衍射儀使用技巧：1、樣品制備：...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動(dòng)速度和方向，來計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào)，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制?；陔妱?dòng)力學(xué)原理進(jìn)行測量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí)，其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運(yùn)動(dòng)速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動(dòng)速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動(dòng)速度。通過分析納米...

由馬爾文帕納科粒度粒形分析高級應(yīng)用專家黎小宇供稿本文摘要本文記錄了Masterziser3000激光粒度儀和Morphologi-4全自動(dòng)粒度粒形分析儀對負(fù)極材料進(jìn)行粒度粒形測試的過程，并提供了解決石墨樣品分散漂浮和細(xì)粉不穩(wěn)定等典型問題的解決辦法。此外，還根據(jù)樣品粒形測試的結(jié)果對電池負(fù)極材料球形度對電池質(zhì)量的影響進(jìn)行了闡述。全文分為兩篇，此為上篇。實(shí)驗(yàn)背景負(fù)極材料對電池的容量、能量密度、充電效率、循環(huán)壽命、安全性等核心指標(biāo)均產(chǎn)生直接影響。目前，石墨類材料因其穩(wěn)定性高，成本低，...

X射線衍射儀是一種強(qiáng)大的科學(xué)工具，被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、晶體學(xué)和結(jié)構(gòu)化學(xué)等領(lǐng)域。它能夠通過測量材料中X射線的衍射模式，揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和相對含量，為科學(xué)家們提供了研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的窗口。基于X射線的衍射現(xiàn)象。當(dāng)X射線通過物質(zhì)時(shí)，會(huì)與物質(zhì)中的原子發(fā)生相互作用，形成衍射。衍射過程中，X射線的波長與物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)，通過測量衍射角度和強(qiáng)度，可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺(tái)、衍射儀和探測器等組成。X射線源產(chǎn)生高能X射線，照射到樣品上。樣品中的晶...