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納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度和方向，來(lái)計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào)，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制。基于電動(dòng)力學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí)，其表面帶有電荷。通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度來(lái)推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動(dòng)速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動(dòng)速度。通過(guò)分析納米...

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測(cè)對(duì)象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀是一種常用的檢測(cè)儀器，利用波長(zhǎng)很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離，測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析...

納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度和方向，來(lái)計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào)，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制。基于電動(dòng)力學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí)，其表面帶有電荷。通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度來(lái)推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動(dòng)速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動(dòng)速度。通過(guò)分析納米...

本文由馬爾文帕納科亞太應(yīng)用中心技術(shù)經(jīng)理朱曉東供稿本文摘要本文將向您介紹如何利用DataViewer數(shù)據(jù)讀譜軟件，將馬爾文帕納科衍射儀測(cè)量獲得的XRD譜圖，輕松制作成學(xué)術(shù)文章中常用的多譜圖層疊比較圖。關(guān)于DataViewer軟件多譜圖層疊比較是學(xué)術(shù)文章中常見(jiàn)的XRD附圖，一般用Origin等軟件做圖，但是先要轉(zhuǎn)化數(shù)據(jù)格式，再把多個(gè)數(shù)據(jù)一個(gè)一個(gè)導(dǎo)入到Origin里，然后調(diào)整各個(gè)譜圖間的間距，改變兩個(gè)坐標(biāo)軸的標(biāo)注等等步驟，有些繁瑣。而對(duì)于MalvernPANalyitcal衍射儀測(cè)...

X射線衍射儀是一種強(qiáng)大的科學(xué)工具，被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、晶體學(xué)和結(jié)構(gòu)化學(xué)等領(lǐng)域。它能夠通過(guò)測(cè)量材料中X射線的衍射模式，揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和相對(duì)含量，為科學(xué)家們提供了研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的窗口?；赬射線的衍射現(xiàn)象。當(dāng)X射線通過(guò)物質(zhì)時(shí)，會(huì)與物質(zhì)中的原子發(fā)生相互作用，形成衍射。衍射過(guò)程中，X射線的波長(zhǎng)與物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)，通過(guò)測(cè)量衍射角度和強(qiáng)度，可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺(tái)、衍射儀和探測(cè)器等組成。X射線源產(chǎn)生高能X射線，照射到樣品上。樣品中的晶...