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納米顆粒跟蹤分析儀所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過(guò)子體積的掃描，來(lái)自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來(lái)。此外，顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計(jì)數(shù)分析得到。納米顆粒跟蹤分析儀的工作原理：這種技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中顆粒的粒度分布和數(shù)量。激光光束穿過(guò)樣本室并沿該光束散射光的路徑穿過(guò)懸浮液中的顆粒，從而能夠通過(guò)裝有攝像頭的20倍放大顯微鏡輕...

實(shí)時(shí)噴霧粒度儀是一款大量程、開放式針對(duì)霧滴粒度測(cè)定的噴霧激光粒度儀，采用了夫瑯禾費(fèi)衍射原理和典型的平行光路設(shè)計(jì)，配備高性能大功率激光器，能夠滿足測(cè)樣環(huán)境復(fù)雜、粒徑分布較大的測(cè)試需求，實(shí)時(shí)測(cè)量霧滴粒度分布，具有測(cè)試速度快、測(cè)量范圍寬，全自動(dòng)操作等特點(diǎn)。適用于噴嘴制造、噴霧、噴霧干燥、油霧、水霧、煙霧、消防干粉、氣霧劑生產(chǎn)等行業(yè)顆粒度的測(cè)量。實(shí)時(shí)噴霧粒度儀的性能特點(diǎn)：1.采用分體式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，測(cè)量區(qū)間1-10m可調(diào)，使用功率更大的半導(dǎo)體激光器，抗干擾能力得到極大增強(qiáng)。2.軟件功能...

X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀的原理：x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是19...

zeta電位儀是一臺(tái)高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動(dòng)態(tài)光散射法，結(jié)合“NIBS”光學(xué)器件，可增強(qiáng)對(duì)聚集體的檢測(cè)，還可測(cè)量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位儀，以及靜態(tài)光散射法表征分子量。與使用90度散射光學(xué)器件的系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)采用非侵入式背散射光學(xué)器件（NIBS），使性能得到顯著提升。那么zeta電位儀的安裝方法是什么呢？1.打開電腦主機(jī)箱，安裝視頻采集卡，將視頻采集卡安裝在電腦主板上的PCI插槽中...

Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。zeta電位儀的性能...